ИНТЕРПРЕТАЦИЯ КРИВЫХ ВЭЗ

Начало интерпретации: построение кривой, визуальный анализ кривой, задание модели начального приближения при автоматической и интерактивной интерпретации кривых ВЭЗ
           Представление данных зондирования
           Визуальный анализ кривой
           Задание модели начального приближения
Интерпретация 3-слойных кривых ВЭЗ по двухслойным и вспомогательным палеткам
Оценка пределов действия принципа эквивалентности
           Понятие эквивалентности
           Средства IPI2Win для оценки пределов действия принципа эквивалентности
           Оценка эквивалентности на основе информационно-статистического подхода
           Прямая оценка эквивалентности для пары параметров
Порядок выполнения работ в задачах по интерпретации 3-5-слойных кривых
           Сбор фактического материала
           Анализ результатов

Начало интерпретации: построение кривой, визуальный анализ кривой, задание модели начального приближения при автоматической и интерактивной интерпретации кривых ВЭЗ  [В начало]   [След. раздел]

Вертикальное электрическое зондирование (ВЭЗ) - метод электроразведки для расчленения горизонтально или пологозалегающих геологических разрезов (с углами падения слоев меньше 10-15°). Метод ВЭЗ используется для изучения разрезов, в которых слои мощностью h1, h2, h3, ..., hN-1 отличаются по удельному сопротивлению r1r2,r3, ..., rN.
Интерпретация наблюденной кривой ВЭЗ rK=f(r), rдействующий разнос установки, сводится к определению количества слоев в разрезе, их сопротивлений и мощностей - геоэлектрического разреза (ГЭР) в точке зондирования.


Представление данных зондирования [В начало раздела]    [След. пункт]

Перед началом интерпретации данные зондирования представляются в виде кривых и/или разрезов кажущегося сопротивления. Кривая зондирования строится в логарифмическом масштабе по обеим осям («на билогарифмическом бланке»); по горизонтальной оси откладывается разнос, по вертикальной - значение кажущегося сопротивления. Масштабы по горизонтальной и вертикальной осям должны быть одинаковы, т. е. расстояния между штрихами 1, 10, 100 и т. д. должны быть одинаковы.
Разрез кажущегося сопротивления строится в дополнение к кривым для представления данных по профилю, на котором выполнено несколько зондирований. Разрез кажущегося сопротивления представляет собой изолинии кажущегося сопротивления, построенные в координатах (х,r).За координату xпринимается расстояние по профилю от его начала до точки зондирования; координата х откладывается в линейном масштабе по горизонтальной оси. За координатуr принимается действующий разнос установки; эта координата откладывается в логарифмическом масштабе по вертикальной оси, направленной сверху вниз. Значения уровней изолиний образуют, как правило, геометрическую прогрессию.
Использование логарифмического масштаба для представления данных ВЭЗ связано с тем, что:
1)данные электроразведки отвечают логнормальному закону распределения (см. задачу «Оценка закона распределения геофизических данных, выявление фоновых и аномальных участков по данным комплекса методов - ‘‘Статистика’’ - этого практикума);
2)кривые зондирования в таком масштабе имеют простейшую форму (в частности - кривая для двухслойного разреза с непроводящим основанием асимптотически приближается к прямой, образующей с осями угол 45°.
Визуальный анализ кривой    [В начало раздела][След. пункт]  [Предыд. пункт]
Интерпретация кривой начинается с визуального анализа. Сперва делается вывод о применимости или неприменимости горизонтально-слоистой модели. Заведомо не соответствуют горизонтально-слоистой модели кривые, на которых имеются восходящие фрагменты, образующие с горизонтальной осью угол более 45°.
Для кривой, отвечающей горизонтально-слоистой модели проводится оценка количества выявленных на кривой горизонтов и соотношения сопротивлений между ними определение типа кривой).
Двухслойные кривые ВЭЗ разделяют на восходящие с r1>r2 и нисходящие с r1<r2.
Трехслойные кривые (рисунок «Типы трехслойных кривых ВЭЗ») различают по типам:
r1<r2>r3 - кривая типа К (колоколообразная);
r1>r2<r3 -кривая типа Н (чашеобразная);
r1>r2>r3 -кривая типа Q (нисходящая);
r1<r2<r3 -кривая типа A (восходящая)
Тип многослойной кривой складывается из типов трехслойных кривых, на которые можно разбить многослойную кривую, например, кривая с r1<r2>r3<r4 - четырехслойная типа KH.
Количественная интерпретация кривой зондирования заключается в определении (или оценке) параметров разреза r1, ..., rNh1,...hN-1.
Задание модели начального приближения[В начало раздела]     [Предыд. пункт]
При «компьютерной» интерпретации (автоматическом или интерактивном решении обратной задачи ВЭЗ ) успех в значительной мере определяется выбором модели начального приближения. Основным способом задания модели начального приближения при массовой интерпретации кривых ВЭЗ в ходе решения практических задач является использование априорной информации, т. е. данных бурения.Число слоев и глубины границ определяются по буровым колонкам, сопротивления слоев задаются исходя из литологической информацииНекоторые геологические слои могут объединяться в единые геоэлектрические слои в соответствии с электрическими свойствами слагающих пород и, следовательно, их проявленностью на кривой ВЭЗ. (см. раздел «Интерактивная интерпретация» этого пособия).
Если априорной информации недостаточно или она имеет описательный или качественный характер, модель начального приближения может быть задана исходя из формы кривой (здесь и далее речь идет о кривых, отвечающих горизонтально-слоистому разрезу). Прежде всего определяется тип кривой, т. е. количество слоев и качественное соотношение сопротивлений (на уровне «больше - меньше»).


Кресты кривой зондирования

Параметры разреза определяются по «крестам кривой». Крест кривой - это точка билогарифмического бланка, на котором построена кривая, такая, что ее  координаты (rэквih экв i) численно равны УЭС и мощности 1-го слоя 2-слойного разреза, такого, что кривая зондирования для него точнее всего аппроксимирует фрагмент полевой кривой, который соответствует двум последовательным слоям, выделяемым на полевой кривой.
Таким образом, каждому кресту кривой соответствует некоторый двухслойный разрез.
В двухслойном разрезе, соответствующем первому (крайнему левому) кресту, УЭС и мощность первого слоя равны этим параметрам первого слоя ГЭР в точке зондирования. Иначе говоря, параметры первого слоя ГЭР в точке зондирования равны координатам первого креста кривой (креста Гуммеля). УЭС основания этого двухслойного разреза представляет УЭС всей нижележащей толщи, включая основание. Первый крест всегда находится на левой (в области малых разносов) горизонтальной асимптоте полевой кривой.
УЭС основания 2-слойного разреза, отвечающего последнему (крайнему правом) кресту кривой, равно УЭС основания ГЭР в точке зондирования, равное значению правой (в области больших разносов) горизонтальной асимптоты полевой кривой,
Положения остальных крестов (крестов анизотропии) закономерно связаны друг с другом. 2-й (3-й, 4-й и т. д.) крест располагается на ветви кривой Дар-Заррук, соответствующей основанию двухслойного разреза, отвечающего 1-му (2-му, 3-му и т. д.) кресту.
Кресты кривых и соотношения между их координатами и параметрами разреза использовались при количественной интерпретации кривых ВЭЗ по палеткам. Для точной расстановки крестов применялись палетки двухслойных кривых и вспомогательные палетки (палетки кривых Дар-Заррук для соответствующих двухслойных разрезов с некоторыми поправками, полученными эмпирическим путем).
Задание модели начального приближения по крестам кривой
При задании модели начального приближения положение крестов кривой определяют приближенно (визуально).В модели начального приближения сопротивления слоев r1, ..., rN-1,принимаются равными rэкв1, ..., r экв N-1 ,(т. е. координатам rэкв крестов кривой); сопротивление основания разреза определяется по правой асимптоте кривой. Мощности слоев h1,...,hN-1 рассчитываются как hэкв2-hэкв1,...,hN-1-hN-1, т. е. по разностям координат hэкв последовательных крестов кривой.
При выполнении задачи рекомендуется положение крестов определять путем подбора соответствующих фрагментов кривой в рамках двухслойной модели. За координаты креста (rэквih экв i) следует принимать (r1ih1) двухслойного разреза (точку первого излома псевдокаротажной кривой в окнекривой IPI2Win). При подборе фрагментов кривой следует обращать внимание на положение креста (первого излома) относительно кривой, ориентируясь на правильные примеры с рисунка «Положение крестов на трехслойных кривых».
 
Типы трехслойных кривых ВЭЗ [К месту вызова]
Положение крестов на трехслойных кривых  [К месту вызова]


Интерпретация 3-слойных кривых ВЭЗ
по двухслойным и вспомогательным палеткам. [В начало]   [След. раздел] [Предыд. раздел]

1)Первый крест.
ЮБланк с кривой наложить на двухслойную палетку. 
ЮСовместить левую ветвь кривой на бланке с одной из линий палетки. (Оси бланка и палетки должны быть параллельны.)
ЮСовместив, отметить на бланке начало координат палетки (1-й крест).
ЮЗаписать координаты 1-го креста (параметры 1-го слоя r1, h1) и шифр линии m1. (Если кривая ложится между линиями палетки, m1 вычислить интерполяцией.)
2)Вспомогательная линия.
ЮОпределить тип кривой.
Юкрест кривой на бланке совместить с началом координат вспомогательной палетки нужного типа. (Оси бланка и палетки должны быть параллельны.)
ЮПеренести субгоризонтальную линию с шифром m1 на бланк. (Если m1 получено интерполяцией, вспомогательную линию провести также интерполяцией.)
3)Второй крест.
ЮБланк наложить на двухслойную палетку.
ЮПеремещать бланк так, чтобы:
a)начало координат палетки было на вспомогательной линии, 
b)правая ветвь кривой на бланке совпала с одной из линий палетки. (Оси бланка и палетки должны быть параллельны.)
ЮДобившись 3а-б, отметить на бланке начало координат палетки (2-й крест).
ЮЗаписать координаты 2-го креста (эквивалентные параметры rэкв, hэкв) и шифр линии m2. (Если кривая ложится между линиями палетки, m2 вычислить интерполяцией.)
4)Отношение мощностей слоев.
Юкрест кривой на бланке совместить с началом координат вспомогательной палетки нужного типа. (Оси бланка и палетки должны быть параллельны.)
ЮЗаписать шифр n1 субвертикальной линии, на которой находится 2-й крест. (Если находится между линиями палетки, n2 вычислить интерполяцией.)
5)Пределы изменения m1n1.
ЮСвободную часть бланка наложить на номограмму Пылаева нужного типа (оси бланка и палетки должны быть параллельны.)
ЮНа бланке отметить точку с координатами m1n1.
ЮПеренести на бланк границы и записать m области, в которой оказалась точка. (Если точка оказалась между областями, перенести на бланк границы и записать m этих областей, интерполяцией провести границы области, соответствующей m1.)
ЮЧерез точку m1n1 провести линию параллельно штриховым на номограмме до пересечения с границами области. Записать координаты точек пересечения m’, n’ и m’’, n’’.
6)Параметры разреза.
Юr1, h1 - координаты 1-го креста;
Юпределы для r2 - [mминr1mмаксr1],mмин=min(m’, m’’),mмaкс=max(m’, m’’);
Юпределы для h2 - [nминh1nмаксh1],nмин=min(n’, n’’),nмaкс=max(n’, n’’);
Юr3m2rэкв.
Оценка пределов действия принципа эквивалентности   [В начало]   [След. раздел][Предыд. раздел]
Понятие эквивалентности [В начало раздела]    [След. пункт]
Для теоретических (непрерывных, точно рассчитанных в интервале разносов от 0 до бесконечности) кривых ВЭЗ доказана теорема единственности для обратной задачи ВЭЗ, которая (в упрощенном изложении) гласит, что каждой кривой ВЭЗ соответствует одна и только одна модель среды, т. е. ее интерпретация единственна. Практические кривые ВЭЗ измерены в конечном интервале и на дискретных разносах, а главное, - содержат ошибки измерений. Такие ошибки - неизбежный и постоянный спутник любых практических измерений. В методе ВЭЗ ошибки порождаются: неточностью приборов, геометрическими неточностями в расстановке электродов и, главное, влиянием геологических помех - мелких неоднородностей в свойствах и строении среды, отличающих ее от идеальной горизонтально-слоистой модели, в рамках которой ведется интерпретация. Таким образом, наличие ошибок измерений превращает теоретическую единственность решения в практическую неединственность решения, т. е. эквивалентность различных решений обратной задачи. Два геоэлектрических разреза называются эквивалентными, если относительное расхождение кривых ВЭЗ для этих разрезов не превышает точности полевых измерений или невязки подбора.
Практически действие принцип эквивалентности означает, что некоторые параметры разреза не могут быть определены в ходе интерпретации, если неизвестны некоторые другие параметры разреза. Наиболее известным примером является эквивалентность по параметрам второго слоя трехслойных разрезов, мощность и сопротивление которых не могут быть определены одновременно. Для второго слоя разрезов типов А и H устойчиво определяется продольная проводимость S2=h2/r2 (в этом случае говорят об S-эквивалентности). Для второго слоя разрезов типов К и Q устойчиво определяется поперечное сопротивление Т2=h2·r2 (в этом случае говорят о Т-эквивалентности). S- (или, соответственно, Т-) эквивалентность имеет место также для средних слоев элементов А и H (или, соответственно, К и Q) многослойных разрезов.
Действие принципа эквивалентности с одной стороны затрудняет интерпретацию кривых, с другой стороны - позволяет по а приори известным параметрам разреза находить другие параметры разреза.


Средства IPI2Win для оценки пределов действия принципа эквивалентности [В начало раздела]    [След. пункт] [Предыд. пункт]

Для оценки пределов действия принципа эквивалентности (минимальное и максимальное значение параметра слоя при сохранении текущего значения невязки подбора) для параметров модели на одном из пикетов ВЭЗ, выберите этот пикет и затем выберите пункт меню Tools, Equivalence/Анализ, Эквивалентность.
Анализ действия принципа эквивалентности основан на двух подходах - информационно-статистическом (Ф. М. Гольцман и Л. Н. Порохова) для всех параметров модели и прямом расчете областей эквивалентности для двух параметров разреза с их визуализацией (такой подход использовали В. П. Колесников (Пермь) и Б. П. Петрухин (Москва, МГУ).
Для текущей кривой сначала проводится оценка эквивалентности по Гольцману-Пороховой, а затем, для выбранной пары параметров с высокими коэффициентами корреляции, - прямым методом. Обращаем внимание, что оценки пределов действия принципа эквивалентности по двум подходам не обязаны совпадать, т.к. в их основе существенно разные идеи.


Оценка эквивалентности на основе информационно-статистического подхода   [В начало раздела]   [След. пункт][Предыд. пункт]
Способ расчета

Способ расчета при оценке пределов действия принципа эквивалентности основан на решении обратной задачи ВЭЗ с использованием вероятностно-статистического подхода. Важнейшей особенностью данного алгоритма является оценка качества решения по доверительным пределам оцениваемых параметров разреза и корреляционным связям оценок этих параметров. В случае неудовлетворительного качества решения по результатам счета можно определить причины и те дополнения и изменения, которые могут улучшить качество решения.
Полевые данные в виде кривой зондирования (значения кажущегося сопротивления) рассматривается как набор случайных величин {rКj,j=1,...K} (Kчисло разносов на кривой)Дисперсия каждой из этих величин оценивается как D(rКj)r2К теор·D0, где rК теор - значения кажущегося сопротивления на соответствующих разносах теоретической кривой, рассчитанной по результатам подбора полевой кривой, а D0 - квадрат среднеквадратической точности подбора.
Результат интерпретации кривой - набор параметров разреза для N-слойной модели (вектор параметров q с компонентами r1, ..., rNh1,...hN-1) - рассматривается как априорная оценка значений этих параметров как случайных величиндисперсия которых также принимается равной квадрату среднеквадратической точности подбора.
Для данных и результатов вводятся функции правдоподобия (см., например, задачу Э-7 для курсовых работ по «Информатике» на 2 курсе). Сумма функций правдоподобия для данных и результатов (обобщенная функция правдоподобия) при вероятностно-статистическом подходе к решению обратной задачи является аналогом функционала невязки при Тихоновском подходе.
Решение обратной задачи достигается путем максимизации обобщенной функции правдоподобия. Эта задача сводится к решению системы линейных уравнений. Обратная матрица этой системы является ковариационной матрицей параметров разреза r1, ..., rN,h1,...hN-1. Ее диагональные элементы суть дисперсии параметров разреза, по которым устанавливаются доверительные интервалы параметров [r/er·e] и [h/e,h·e], e -стандартный множитель (аналог среднеквадратического отклонения для случайной величины с логнормальным распределением; см. задачу «Оценка закона распределения геофизических данных, выявление фоновых и аномальных участков по данным комплекса методов - ‘‘Статистика’’ - этого практикума).
По внедиагональным элементам ковариационной матрицы оцениваются коэффициенты корреляции соответствующих параметров разреза.
Оценка эффективности решения.  [В начало раздела]    [След. пункт][Предыд. пункт]
В этом режиме качество получаемого решения оценивается по информационной таблице модели разреза (вкладка Limitsокна Analysis of the equivalent models).Каждая строка таблицы соответствует одному из параметров разреза (удельному сопротивлению слоя, мощности слоя или глубине подошвы слоя); в ней приведены наивероятнейшее значение параметра (колонка p), стандартный множитель (колонка К) и пределы изменения (колонки Minи Max). Эти величины рассчитываются с использованием подхода Гольцмана - Пороховой, величина невязки задается в текстовом поле Fitting error вкладки Limits окна Analysis of the equivalent models (по умолчанию используется текущее значение невязки подбора).
Во вкладке Correlationокна Analysis of the equivalent models приведена КОРРЕЛЯЦИОННАЯ МАТРИЦА параметров разреза. Для N-слойного разреза корреляционная матрица имеет размер (2N-1) x (2N-1). Каждая строка и каждый столбец соответствуют мощности или сопротивлению слоя (Nстрок/столбцов соответствуютсопротивлениям, N-1мощностям). На пересечениях строк и столбцов стоят значения коэффициента корреляции соответствующих параметров разреза.


Принципы анализа корреляционной матрицы совместных оценок параметров    [В начало раздела]   [След. пункт][Предыд. пункт]

На главной диагонали корреляционной матрицы стоят единицы. Если коэффициент корреляции намного меньше единицы по модулю, то параметры разреза, по которым он рассчитан, по-разному влияют на кривую ВЭЗ и определяются с малой погрешностью.
Параметры, для которых коэффициент корреляции по модулю близок к 1, совместно неопределимы. Следует различать два случая, в которых коэффициенты корреляции близки к 1: а) для удельного сопротивления и мощности одного слоя и б) для параметров (любых) различных слоев). В первом случае мы имеем дело с S или Т эквивалентностью (S - когда коэффициент корреляции близок к +1, Т - коэффициент корреляции близок к -1). Для повышения точности решения в этом случае следует закрепить один из эквивалентных параметров, если удается получить независимую информацию о нем.
В случае сильной корреляции параметров соседних слоев следует либо закрепить один из коррелируемых параметров, либо объединить два этих слоя в один, т.е. упростить модель.
Такие меры помогают уменьшить погрешности оценок параметров. Приемлемой можно считать интерпретацию, если стандартный множитель < 1.5, плохой, если от 1.5 до 2, недопустимой, - когда > 2, хорошее качество интерпретации, когда стандартный множитель не более 1.2.
Как правило высокие значения стандартного множителя соответствуют большим коэффициентам корреляции совместных оценок параметров. Исключением является случай отсутствия правой асимптоты на кривой ВЭЗ, тогда стандартный множитель будет велик независимо от коэффициентов корреляции. За этим исключением можно считать, что большой стандартный множитель дает сигнал тревоги, корреляционная матрица может пояснить причину плохого качества интерпретации, а объединение слоев, закрепление параметров или задание априорных пределов на параметры, - помогают добиться хорошего качества интерпретации.
Прямая оценка эквивалентности для пары параметров
Полагая, что текущие значения параметров являются центром области эквивалентности, рассчитывается еще несколько решений прямой задачи для параметров, варьируемых вокруг данной точки и определяется величина максимальной погрешности отличия кривых ВЭЗ от центральной. Погрешность s рассматривается как функция s(ri, hj) оттой пары параметров разреза, для которой оцениваются пределы эквивалентности. В поле погрешностей проводятся изолинии значений максимальных погрешностей, показывающих конфигурацию области и пределы действия принципа эквивалентности. Изометричные области эквивалентности указывают на отсутствие корреляции оценок параметров, сильно вытянутые области - на корреляционные связи оценок параметров.
Прямая оценка в IPI2Win проводится по выбору пользователя. Для просмотра «карты» области эквивалентности следует щелкнуть мышью на ячейку корреляционной матрицы, соответствующую интересующим параметрам разреза.
 
                       [К месту вызова]                                                [К месту вызова]                                      [К месту вызова]
Окно анализа эквивалентности: вкладки Limits(слева) и Correlation (в центре), «карта» области эквивалентности для параметров 2-го слоя (справа)

Порядок выполнения работ в задачах по интерпретации 3-5-слойных кривых
A. Сбор фактического материала.

Перед началом работы ознакомиться со справочными материалами по программе IPI2Win, составить в своей папке файл данных (*.dat) для IPI2Win.
Пп. 1-9 выполняются ДЛЯ КАЖДОЙ КРИВОЙ ПО ОЧЕРЕДИ.


1. Анализ кривой, составление модели начального приближения

1.1. Построить на бумаге кривую зондирования в двойных логарифмических координатах. Проверить равенство горизонтального и вертикального масштабов. Подписать лист, поставить дату, указать название задачи и номер кривой.
1.2. Определить количество слоев и тип кривой, записать результат на бланк, установить соответствие слоев и элементов кривых (асимптот, экстремумов, полок, перегибов).
1.3.В своей папке составить файл данных (*.dat) для IPI2Win.
1.4.Запустить IPI2Win, открыть свой файл данных, выбрать кривую.
1.5.Используя двухслойную модель, подобрать (вручную, визуально) фрагменты кривой, соответствующие двум последовательным слоям (сначала первому-второму, затем второму-третьему, и т. д.). По результатам каждого подбора отметить на бумаге с кривыми положение крестов кривых (см. ПРАВИЛЬНЫЕ примеры на рис. «Положение крестов трехслойных кривых»), координаты крестов занести табл. 1 на бланке.
1.6.Определить параметры модели начального приближения, занести их в табл. 2 на бланке.


2. Интерактивная интерпретация

2.1. Ввести в окно модели параметры модели начального приближения. занести в табл. 2 невязку подбора.
2.2. Изменяя параметры слоев, добиться наилучшего совпадения экспериментальной и теоретической кривых. Занести в табл. 2 результаты подбора .
2.3. Построить на бумаге с кривой псевдокаротажную кривую результатов интерпретации.


3. Оценка пределов эквивалентности для результатов интерактивной интерпретации

3.1. Войти в режим анализа эквивалентности (Tools, Equivalence).
3.2. Занести в табл. 2 пределы изменения параметров разреза.
3.3. Рассмотреть корреляционную матрицу. Выписать на бумагу номер кривой, параметры с максимальными значениями коэффициента корреляции и сами значения коэффициентов корреляции (для r2h2,r3h3,r4h4 и параметров с максимальной корреляцией кроме этих - всего до 4 значения).
3.4. Построить «карту» области эквивалентности для r2h2.С диаграммы снять пределы изменения мощности и сопротивления по изолинии 4% или 5%, занести в табл. 2.
3.5. Определить и вычислить параметр эквивалентности (S или Т) для второго слоя, занести в табл. 2.
3.6. Для 4-слойных кривых действия 3.4 - 3.5 повторить для третьего (r3h3) слоя, Для 5-слойных кривых действия 3.4 - 3.5 повторить для третьего (r3h3) и затем для четвертого (r4h4) слоев,
3.7. Построить на бумаге с кривой псевдокаротажные кривые пределов действия принципа эквивалентности. Там же отметить пределы изменения параметров 2-го (3-го, 4-го) слоя, снятые с диаграммы.


4. Автоматический подбор (неизвестны все параметры разреза)

4.1. Запустить IPI2Win, открыть свой файл данных, выбрать кривую.
4.2. Ввести в окно модели параметры модели начального приближения.
4.3. Выполнить автопобдор. Занести в табл. 2 параметры разреза и невязку подбора.
4.4. Построить на бумаге с кривой псевдокаротажную кривую результатов интерпретации.


5. Оценка пределов эквивалентности для результатов автоматического подбора (неизвестны все параметры разреза)

Точно так же, как п. 3.


6. Автоматический подбор (известны УЭС ряда слоев)

6.1. Запустить IPI2Win, открыть свой файл данных, выбрать кривую.
6.2. Ввести в окно модели параметры модели начального приближения.
6.3. Закрепить известные параметры.
6.4. Выполнить автопобдор. Занести в табл. 2 параметры разреза и невязку подбора.
6.5. Построить на бумаге с кривой псевдокаротажную кривую результатов интерпретации.


7. Оценка пределов эквивалентности для результатов автоматического подбора (известны УЭС ряда слоев)

Точно так же, как п. 3, 5.


8. Автоматическийвыбор модели

8.1. Запустить IPI2Win, открыть свой файл данных, выбрать кривую.
8.2. Проверить, что в окне модели НЕ задана модель начального приближения (и никакая другая). При необходимости удалить модель.
8.3. Выполнить автоматический выбор модели.
8.4. Построить на бумаге с кривой псевдокаротажную кривую результатов интерпретации.


9. Оценка пределов эквивалентности для результатов автоматического выбор модели

Точно так же, как п. 3, 5, 7.

10. Составить легенды к графикам.

В.Анализ результатов.
1. Зависимость точности подбора от типа кривой и способа подбора. (Табл. 3 на бланке).
1.1.Занести в таблицу обозначения кривых (с указанием типа) в порядке возрастания невязки подбора и значения самих невязок для каждого способа подбора.
1.2.Для каждого способа подбора рассчитать и занести в таблицу среднюю (среднее арифметическое) невязку.
1.3.Занести в таблицу ранг способа интерпретации по точности подбора (1 - минимальное значение невязки, 4 - максимальное значение невязки).


2. Сводные результаты интерпретации. (Табл. 4 на бланке).

Для каждого слоя каждой модели рассчитать по всем методам интерпретации среднее геометрическое параметров разреза и параметра эквивалентности (или Т) и относительное отклонение параметров разреза и параметра эквивалентности (или Т) . Результаты записать в табл. 4, указав тип эквивалентности .


3. Выделение коррелируемых параметров разреза. (Табл. 5а,б на бланке)

3.1.Для каждой кривой занести в табл. 5а средние по всем методам интерпретации значения коэффициентов корреляции параметров 2-го слоя между собой (для 4-слойного разреза - параметров 2-го слоя между собой и параметров 3-го слоя между собой; для 5-слойного разреза - параметров 2-го слоя между собой, параметров 3-го слоя между собой и параметров 4-го слоя между собой).
3.2.Для каждой кривой в таблицу 5б занести наибольший (по всем методам интерпретации) коэффициент корреляции между параметрами различных слоев и эти параметры. Указать при каком методе интерпретации получено это значение
3.3.Если наибольшая корреляция отмечается между одними и теми же параметрами при различных методах интерпретации, занести в табл. 5б эти параметры и пределы изменения коэффициента корреляции.


4. Сравнение разброса оценок параметров разреза и параметров эквивалентности (Табл. 6 на бланке)

4.1.По всем кривым и по всем слоям, для которых действует S- или Т-эквивалентность, вычислить средние относительные отклонения оценок параметров разреза и параметров эквивалентности (для 5-слойных - с учетом выданной модели) - получить три числа - средние отклонения по сопротивлению, по мощности и по параметру эквивалентности. Рассчитывать по материалам табл. 4.
4.2.В табл. 6 занести параметры разреза эквивалентности и средние отклонения их оценок в порядке возрастания средних отклонений.